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日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

訪問次數(shù):1639

更新日期:2024-03-19

簡要描述:

日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列
通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進(jìn)行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于激光位移計的精度,從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測量是困難的。

日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列
類型數(shù)字式測量范圍1

日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

這是使用β射線(beta射線)的測厚儀(膜厚計)。以非接觸方式(β射線)測量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度(基本重量),而不是直接測量厚度。
 通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進(jìn)行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于激光位移計的精度,從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測量是困難的。
 另一方面,在諸如β射線測厚儀之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中,測量了空氣層-樣本-空氣層與滲透之間的衰減,但是樣本的衰減遠(yuǎn)大于空氣的影響,運(yùn)輸?shù)挠绊憙H表現(xiàn)為空氣層厚度的變化,并且影響很小。因此,可以高精度地進(jìn)行測量。

β射線測厚儀的一般特點

  1. 基本重量可以在不依賴于元素的情況下進(jìn)行測量。

我們的β射線測厚儀與常規(guī)β射線測厚儀相比的特點

  1. 無需設(shè)置資格或控制區(qū)域(帶顯示的身份驗證設(shè)備)
  2. 檢測單元和β射線源單元緊湊,輕便,甚至可以安裝在狹窄的地方。

采用

  • 塑料膜(多層擠出膜等)
  • 電池電極(鋰離子電池(負(fù)極/正極),鎳氫電池等)
  • 玻璃纖維布
  • 陶瓷片
  • 銅箔,鋁箔,不銹鋼箔

日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

貝塔射線測厚儀SB-1100


β射線測厚儀SB-1100的規(guī)格
 
物品規(guī)格
姓名貝塔射線測厚儀SB-1100
測量方法Beta射線透射法
驗證碼設(shè)置114(帶顯示的認(rèn)證設(shè)備)
檢測方式閃爍檢測器方法
測量間距標(biāo)準(zhǔn)2mm(可提供更細(xì)的間距)
掃描寬度標(biāo)準(zhǔn)150-3000mm(也可提供其他寬度)
掃描速度15-200毫米/秒(標(biāo)準(zhǔn))
框架結(jié)構(gòu)O型等各種鏡框
測量范圍0-200克/平方米2
光斑尺寸約φ8.0mm(標(biāo)準(zhǔn))(上班)
Beta射線源80 x 110毫米x 235毫米(標(biāo)準(zhǔn))
檢測單元80 x 110毫米x 235毫米(標(biāo)準(zhǔn))
電源100V單相1kVA

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