客戶咨詢熱線：
18922517093
日本stc半導體紅色激光源KM系列 這是標準的紅色激光源。 您可以從低功耗的各種變體中進行選擇。
更新日期：2024-03-23 訪問量：972
日本stc半導體藍光激光光源DSB系列 是一種450nm半導體激光光源。 該陣容的外觀與DSG系列（515nm）和DSR系列（640nm）相同。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1061
日本stc半導體紅色激光光源DSR系列 是一種640nm的半導體激光光源。 該陣容的外觀與DSG系列（515nm）和DSB系列（450nm）相同。
更新日期：2024-03-23 訪問量：954
日本stc半導體綠色激光源DSG系列 這是一種高度可見的515nm半導體激光源。 它甚至可以在高溫和低溫下使用，這是傳統(tǒng)綠色激光源難以做到的。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1003
synos簡單光學測量的光學系統(tǒng) M-Scope J型 光學測量儀
synos簡單光學測量的光學系統(tǒng) M-Scope J型 用于光學測量的簡單光學系統(tǒng) M-Scope J型是一種用于光照射測量和光接收測量的光學系統(tǒng)。 它是一個小型單目外殼，適合集成到設備中。 配備用于同軸圖像觀察的圖像探測器連接端口，可以輕松對齊光照射位置和光接收位置。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1128
M-Scope Type Isynos用于光照射和光接收測量的光學系統(tǒng) 光學測量儀
synos用于光照射和光接收測量的光學系統(tǒng)M-Scope Type I 用于高性能光學測量的光學系統(tǒng)（用于光照射和光接收測量的光學系統(tǒng)） M-Scope Type I 是一種高性能光學系統(tǒng)，設計用于多用途光學應用測量，例如光照射、光接收測量和光束輪廓測量。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1023
I 型日本synos高性能光學測量光學系統(tǒng) 光學測量儀
日本synos高性能光學測量光學系統(tǒng) M 型示波器 I 型 用于高性能光學測量的光學系統(tǒng)（用于光照射和光接收測量的光學系統(tǒng)） M-Scope Type I 是一種高性能光學系統(tǒng)，設計用于多用途光學應用測量，例如光照射、光接收測量和光束輪廓測量。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1104
日本OMT超寬范圍光度計 S009 這是一種細胞插入式超寬范圍弱發(fā)光測量裝置。 具有三位衰減率和低噪聲光子計數(shù)器的ND濾光片切換機制可以測量約3位的光強度范圍。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1022
M020/M021/M022/M023日本OMT便攜式近紅外分析儀 光學測量儀
日本OMT便攜式近紅外分析儀 M020/M021/M022/M023 近紅外漫反射（透射）方法可以對食品、生物材料、合成樹脂等的結構和成分進行無損分析。 它是一種內置近紅外照射光源的集成設備，可按透射類型或反射類型測量光譜。 通過使用隨附的軟件分析測量的吸光度光譜，可以進行定量和定性分析。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1015
日本OMT近紅外分析光源 M018 用于成分分析的光源，通過用近紅外（NIR）照射測量目標，從漫反射光中獲得近紅外吸收。
更新日期：2024-03-23 訪問量：983
日本dynatec大型平面檢查燈LFPA-D 大型工件的目視檢查的理想選擇 大型工件的印刷和雕刻檢查 非常適合托盤的數(shù)量檢查。
更新日期：2024-03-23 訪問量：909
dynatec超亮芯片LED檢查燈LHMB，LHMB-V 光學測量儀
dynatec超亮芯片LED檢查燈LHMB，LHMB-V 薄型平面照明，表面安裝芯片 LED。 芯片 LED 以高密度安裝，提供高度均勻的光線，使其成為透射照明的理想選擇。
更新日期：2024-03-23 訪問量：936
dynatec帶相機觀察窗口的表面照明燈IPS-FR 光學測量儀
dynatec帶相機觀察窗口的表面照明燈IPS-FR 表面照明，可通過鏡面反射照明進行檢測 有效檢查表面上的細小劃痕和檢查印刷/字符。
更新日期：2024-03-23 訪問量：264
日本dynatec可內置式微型聚光燈LHVA-SP30 光學測量儀
日本dynatec可內置式微型聚光燈LHVA-SP30 體積小，亮度高 非常適合機器人手臂前端的點照射
更新日期：2024-03-23 訪問量：931
日本dynatec同軸聚光燈 LSV，LHV，LHVE 光學測量儀
日本dynatec同軸聚光燈 LSV，LHV，LHVE 理想的LED同軸和聚光照明，可替代用于遠心鏡頭的鹵素光導光源。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1419
