運(yùn)用于薄膜厚度檢測(cè)的便攜式薄膜測(cè)厚儀QNIx系列

 運(yùn)用于薄膜厚度檢測(cè)的便攜式薄膜測(cè)厚儀QNIx系列

 

可從繁瑣的膜厚測(cè)量中輕松提高生產(chǎn)效率的便攜式膜厚計(jì)。

QNIx 系列是一款無(wú)需攜帶沉重的膜厚計(jì)即可使用超輕量緊湊型儀器和探頭測(cè)量膜厚的產(chǎn)品。
由于無(wú)線測(cè)量，無(wú)需電纜。除了便于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)之外，它還有助于防止測(cè)量過(guò)程中發(fā)生墜落事故。

QNIx系列的特點(diǎn)

無(wú)需薄膜校準(zhǔn)即可準(zhǔn)確測(cè)量薄膜厚度

出廠時(shí)輸入16點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)交貨。這消除了麻煩的薄膜校準(zhǔn)工作的需要，并實(shí)現(xiàn)了精確的薄膜厚度測(cè)量。

薄膜厚度測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸新技術(shù)

在傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器中，測(cè)量數(shù)據(jù)是通過(guò)用電纜連接儀器本體和個(gè)人計(jì)算機(jī)來(lái)傳輸?shù)摹?/font>QNIx 系列使用，只需將其插入 USB 端口即可傳輸。可以更快、更輕松地查看測(cè)量數(shù)據(jù)。

超輕量無(wú)線測(cè)量?jī)x

探頭測(cè)量的數(shù)據(jù)無(wú)線傳輸?shù)街鳈C(jī)。它還可以像傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣降低被電纜夾住、擋路并導(dǎo)致墜落事故的風(fēng)險(xiǎn)。此外，探頭重 30g，超輕，您無(wú)需隨身攜帶沉重的儀器。

不易折斷且不會(huì)在被測(cè)物體上留下痕跡的探頭

QNIx 系列探頭被增強(qiáng)塑料包圍，將耐用性提高 30%。即使發(fā)生故障，也易于拆卸和維修，因此縮短了維修周期。此外，還附有紅寶石尖DUAN，因此可以安全地進(jìn)行測(cè)量，而不會(huì)損壞被測(cè)物體（樣品）。

QNIx系列比較規(guī)格表

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx 車檢系統(tǒng)	QNIx 好用
可測(cè)膜	[F]鐵材料上的非磁性涂層 [N]有色材料上的非導(dǎo)電涂層 [FN]鐵/有色材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層			[FN]鐵/有色金屬材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層	[FN]鐵/鋁材料上的非磁性、非導(dǎo)電膜厚度
材料識(shí)別	黑色金屬和有色金屬材料的 自動(dòng)識(shí)別交換	黑色金屬和有色金屬材料的 自動(dòng)識(shí)別交換	用戶的轉(zhuǎn)換	黑色金屬和有色金屬材料的 自動(dòng)識(shí)別交換	鐵/有色，自動(dòng)識(shí)別模式轉(zhuǎn)換
測(cè)量原理	[F]磁通量（霍爾效應(yīng)） [N]渦流
測(cè)量范圍	0 至 2,000 μm （選項(xiàng)：5,000 μm）	0-3,000 微米	0 至 2,000 μm （選項(xiàng)：5,000 μm）	0-5,000 微米	0-500微米
分辨率	0.1 μm, 1 μm [M] 0.01 μm	1微米	0.1微米	0.1 微米、1 微米	5微米
配置格式	0 點(diǎn)校正 用戶校準(zhǔn)：1 [M] 100 件	0點(diǎn)修正	0點(diǎn)修正	無(wú)校準(zhǔn)功能	無(wú)校準(zhǔn)功能
準(zhǔn)確性	± (1 μm + 2%) ± 3.5% (2 mm 或更大) [T] ± (0.3 μm + 2%)	± (2 μm + 3%)	± (1 μm + 3%)	± (1 μm + 2%) ± 3.5% （2 mm 或更大）	± (10 μm + 5%)
測(cè)量速度	1,500ms （約40次/分鐘） [T] 920ms （約65次/分鐘） [R] 1,600ms （約37次/分鐘）	600ms （約70次/分鐘）	1,300ms （約46次/分鐘）	1,500ms （約40次/分鐘）	600ms （約100次/分鐘）