表面清潔度檢測儀 Corona Surf 的測試原理分析
將鍍金電極(直徑約 6mm)在距測量表面幾毫米的距離處振動(dòng),通過振動(dòng)電容法測量表面電位。
振動(dòng)電極稱為開爾文探針。
首先,測量測量表面的初始電位 Vi。初始電位基本上取決于測量表面金屬的元素(標(biāo)準(zhǔn)氧化還原電位、反應(yīng)層等)。
測量初始電位 Vi 后,電暈放電頭移動(dòng)到測量面前方,向針電極施加數(shù) kV 的高壓,在大氣中產(chǎn)生電暈放電。正離子從放電電離的等離子體中通過柵格提供給樣品表面。通過調(diào)整樣品電流和放電暴露時(shí)間來控制電荷量。這類似于復(fù)印機(jī)粘附碳粉的原理。
電暈放電完成充電后,開爾文探針再次移動(dòng)到測量表面前面,并在給定的過渡時(shí)間內(nèi)測量表面電勢 V(t)。正電荷轉(zhuǎn)移導(dǎo)致的表面電勢偏移 dV0 對于干凈的金屬表面為負(fù),對于絕緣污垢和氧化層為正(見圖 1)。對于數(shù)據(jù)分析,使用表面電位圖(見圖 2),X 軸為表面電位偏移 dV0,Y 軸為初始表面電位 Vi。
Vi:初始表面電位
V(0):施加電荷后立即的表面電位
Vend:最終表面電位
表面電位偏移 dV0 = V(0) - Vi
表面電位變化 dV = Vend - V(0)
利用振動(dòng)電容法(開爾文探針)對因電暈放電而在固體表面放置的電荷引起的表面電位變化進(jìn)行非接觸測量,定量測定金屬等基材表面的污染程度評估。
測量可以在幾分鐘內(nèi)完成,因此它不僅可以用于清潔工藝開發(fā),還可以用于生產(chǎn)線上零件的表面清潔度控制。
由于表面電位衰減曲線取決于薄膜的電性能和膜厚,因此也可用于控制絕緣體薄膜的厚度、金屬表面氧化層的厚度以及DLC薄膜的質(zhì)量控制。